8 დიუმიანი სილიკონის ვაფლის P/N ტიპის (100) 1-100Ω მოჩვენებითი რეკლამის სუბსტრატი

8 დიუმიანი სილიკონის ვაფლის P/N ტიპის (100) 1-100Ω მოჩვენებითი დაბრუნების სუბსტრატი გამორჩეული სურათი

Მოკლე აღწერა:

ორმხრივი გაპრიალებული ვაფლის დიდი მარაგი, ყველა ვაფლი 50-დან 400 მმ-მდე დიამეტრის თუ თქვენი სპეციფიკაცია არ არის ხელმისაწვდომი ჩვენს ინვენტარში, ჩვენ დავამყარეთ გრძელვადიანი ურთიერთობები ბევრ მომწოდებლთან, რომლებსაც შეუძლიათ დაამზადონ ვაფლები ნებისმიერი უნიკალური სპეციფიკაციისთვის.ორმხრივი გაპრიალებული ვაფლები შეიძლება გამოყენებულ იქნას სილიციუმის, მინის და სხვა მასალებისთვის, რომლებიც ჩვეულებრივ გამოიყენება ნახევარგამტარულ ინდუსტრიაში.

გამოგვიგზავნეთ ელ.წერილი

პროდუქტის დეტალი

პროდუქტის ტეგები

ვაფლის ყუთის წარმოდგენა

8 დიუმიანი სილიკონის ვაფლი არის საყოველთაოდ გამოყენებული სილიკონის სუბსტრატის მასალა და ფართოდ გამოიყენება ინტეგრირებული სქემების წარმოების პროცესში.ასეთი სილიკონის ვაფლები ჩვეულებრივ გამოიყენება სხვადასხვა ტიპის ინტეგრირებული სქემების დასამზადებლად, მათ შორის მიკროპროცესორების, მეხსიერების ჩიპების, სენსორების და სხვა ელექტრონული მოწყობილობების ჩათვლით.8 დიუმიანი სილიკონის ვაფლები ჩვეულებრივ გამოიყენება შედარებით დიდი ზომის ჩიპების დასამზადებლად, უპირატესობებით, მათ შორის უფრო დიდი ზედაპირის ფართობით და ერთ სილიკონის ვაფლზე მეტი ჩიპის დამზადების შესაძლებლობით, რაც იწვევს წარმოების ეფექტურობის გაზრდას.8 დიუმიან სილიკონის ვაფლს ასევე აქვს კარგი მექანიკური და ქიმიური თვისებები, რაც შესაფერისია ფართომასშტაბიანი ინტეგრირებული მიკროსქემის წარმოებისთვის.

Პროდუქტის მახასიათებლები

8" P/N ტიპის, გაპრიალებული სილიკონის ვაფლი (25 ცალი)

ორიენტაცია: 200

წინაღობა: 0.1 - 40 ohm•cm (ის შეიძლება განსხვავდებოდეს პარტიიდან პარტიაში)

სისქე: 725+/-20მმ

პრემიერ/მონიტორი/ტესტი კლასი

მატერიალური თვისებები

Პარამეტრი	დამახასიათებელი
ტიპი/დოპანტი	P, ბორი N, ფოსფორი N, ანტიმონი N, დარიშხანი
ორიენტაციები	<100>, <111> ორიენტაციების ამოჭრა მომხმარებლის სპეციფიკაციების მიხედვით
ჟანგბადის შემცველობა	10¹⁹ppmA მორგებული ტოლერანტები მომხმარებლის სპეციფიკაციებზე
ნახშირბადის შემცველობა	< 0.6 ppmA

ᲛᲔᲥᲐᲜᲘᲙᲣᲠᲘ ᲡᲐᲙᲣᲗᲠᲔᲑᲐ

Პარამეტრი	პრემიერი	მონიტორი/ტესტი ა	ტესტი
დიამეტრი	200±0.2 მმ	200 ± 0.2 მმ	200 ± 0,5 მმ
სისქე	725±20 μm (სტანდარტული)	725±25µm (სტანდარტული) 450±25µm 625±25 μm 1000±25 მკმ 1300±25 μm 1500±25 მკმ	725±50 μm (სტანდარტული)
TTV	< 5 მკმ	< 10 მკმ	< 15 მკმ
მშვილდი	< 30 მკმ	< 30 მკმ	< 50 მკმ
შეფუთვა	< 30 მკმ	< 30 მკმ	< 50 მკმ
კიდეების დამრგვალება	ნახევრად სგგდ
მარკირება	მხოლოდ ძირითადი ნახევრად ბინა, SEMI-STD ბინები Jeida Flat, Notch

Პარამეტრი	პრემიერი	მონიტორი/ტესტი ა	ტესტი
წინა მხარის კრიტერიუმები
ზედაპირის მდგომარეობა	ქიმიურად მექანიკურად გაპრიალებული	ქიმიურად მექანიკურად გაპრიალებული	ქიმიურად მექანიკურად გაპრიალებული
ზედაპირის უხეშობა	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
დაბინძურება ნაწილაკები @ >0,3 მკმ	= 20	= 20	= 30
ნისლი, ორმოები ფორთოხლის კანი	არცერთი	არცერთი	არცერთი
დაინახა, ნიშნები სტრიაციები	არცერთი	არცერთი	არცერთი
უკანა მხარის კრიტერიუმები
ბზარები, ხრაშუნა, ხერხის ნიშნები, ლაქები	არცერთი	არცერთი	არცერთი
ზედაპირის მდგომარეობა	კაუსტიკური ამოტვიფრული